半导体器件电离辐射总剂量效应 陈伟 科学出版社 PDF电子教材 PDF电子书 大学教材电子版 电子课本 网盘下载（价值135元）【高清非扫描版】（2022年9月）

辐射环境模拟与效应丛书《半导体器件电离辐射总剂量效应》陈伟 科学出版社 PDF电子教材 PDF电子书 大学教材电子版 电子课本 网盘下载（价值135元）【高清非扫描版】（2022年9月）

图书简介：

辐射在半导体器件中电离产生电子-空穴对，长时间辐射剂量累积引起半导体器件电离辐射总剂量效应。电离辐射总剂量效应是辐射效应中最常见的一种，会导致器件性能退化、阈值电压漂移、迁移率下降、动态和静态电流增加，甚至功能失效，因此在辐射环境中工作的半导体器件和电子系统必须考虑电离辐射总剂量效应问题。本书主要介绍空间辐射环境与效应、体硅CMOS器件电离辐射总剂量效应、双极器件电离辐射总剂量效应、SOI器件电离辐射总剂量效应、电离辐射总剂量效应模拟试验方法、MOS器件电离辐射总剂量效应预估、纳米器件电离辐射总剂量效应与可靠性、系统级电离辐射总剂量效应等内容。